Analyse par fluorescense X, applications et limites

Abstract

Un échantillon irradié par des rayons X polychromatiques ré-émet les spectres X caractéristiques des éléments contenus. Ces spectres qui ne comprennent qu’un petit nombre de raies sont mesurés par un spectromètre dont le réseau est un cristal.
Méthode non destructive, la fluorescence X permet le dosage précis des éléments n°13 à 92 (Al–U). On opère sur l’échantillon original et sur des solutions liquides ou solides par comparaison avec des témoins de compositions analogues.
La sensibilité est en général inférieure à celle de la spectrographie UV, sauf pour quelques éléments réfractaires, mais la précision est meilleure, surtout pour les teneurs moyennes ou élevées.
La fluorescence X qui permet entre-autre l’analyse très rapide des aciers, alliages, minerals, ciments est aussi employée pour le dosage des métaux lourds et de Cl, Br et I dans les produits organiques ; avantageuse pour l’analyse des aciers et alliages réfractaires ainsi que des terres rares, elle n’offre pas une sensibilité assez grande pour le contrôle des impuretés des semi-conducteurs.
On construit des appareils d’emploi général pour la recherche ainsi que des appareils spécialisés et automatiques pour les contrôles de fabrication ; les dosages en continu et au défilé sont souvent possibles.